Radyasyonda geri saçılım, x-ışınları veya gama ışınları gibi bazı iyonlaştırıcı radyasyonun, malzemelerin atomları veya çekirdekleri ile etkileşime girdikten sonra saçıldığı olguyu ifade eder. İyonlaştırıcı radyasyon bir maddeye nüfuz ettiğinde, malzemedeki elektronlar veya çekirdeklerle difüzyon etkileşimlerine girebilir. Bu etkileşimlerden bazıları radyasyonun orijinal yolunun tersi yönde, kaynağa veya dedektöre doğru saçılmasına neden olur. Radyasyonun geri saçılımı, tıbbi görüntüleme (kemik kırıklarını tespit etmek için X-ışını görüntüleme veya havaalanı bagaj tarayıcıları gibi) dahil olmak üzere çeşitli uygulamalarda önemlidir.
“Radyasyonun geri saçılması” terimi özellikle iyonlaştırıcı radyasyonun kaynağına veya kökenine doğru geriye doğru saçıldığı süreci ifade eder. Bu saçılma, radyasyon ile malzemelerin atomik yapısı arasındaki etkileşimler nedeniyle meydana gelir. Geri saçılma, radyasyonun enerjisine ve karşılaştığı malzemenin bileşimine bağlı olarak, x-ışınları ve gama ışınları da dahil olmak üzere iyonlaştırıcı radyasyonun çeşitli biçimlerinde meydana gelebilir. Geri saçılma miktarı, malzemenin atom numarası, gelen radyasyonun enerjisi ve dedektöre veya kaynağa göre geliş açısı gibi faktörlere bağlıdır.
Geri saçılım etkisi, iyonlaştırıcı veya iyonlaştırıcı olmayan radyasyonun nesnelerle veya parçacıklarla etkileşime girdikten sonra saçılması veya kaynağa veya yayıcıya geri yansıtılması durumunda gözlemlenen olguyu ifade eder. Radar ve elektromanyetik dalgalar bağlamında geri saçılma etkisi, uzaktan algılama ve tespit uygulamaları için çok önemlidir. Örneğin radar sistemlerinde elektromanyetik dalgalar bir hedefe doğru iletilir ve geri saçılım etkisi bu dalgaların bir kısmının radar alıcısına geri yansımasına neden olur. Yansıyan bu sinyal, hedefin konumu, boyutu ve yansıtma özellikleri hakkında değerli bilgiler içerir. Geri saçılma etkisi, hava durumu izleme, çevresel algılama ve askeri keşif dahil olmak üzere çeşitli alanlarda kullanılır; burada geri saçılan sinyallerin tespiti ve analizi, incelenen nesnelerin ve ortamların özelliklerine ilişkin bilgi sağlar.
