L’interférométrie fonctionne sur le principe de l’interférence des vagues, où des ondes cohérentes (généralement des ondes légères ou radio) sont combinées pour créer des modèles d’interférence qui peuvent être analysés pour extraire des informations sur les sources ou le support par lequel ils voyagent. Le principe fondamental de l’interférométrie repose sur la superposition des ondes, où l’intensité résultante à tout moment est déterminée par la somme des amplitudes des ondes individuelles et la différence de phase entre eux. Cette différence de phase, qui peut entraîner une interférence constructive ou destructrice, est très sensible aux changements dans la longueur ou les caractéristiques du chemin des ondes, permettant aux interféromètres de mesurer des paramètres tels que la distance, la longueur d’onde, le déplacement ou le profil de surface avec une haute précision. Les techniques interférométriques trouvent des applications en astronomie, optique, radar et autres domaines nécessitant une mesure et une analyse précises des propriétés des vagues.
Un interféromètre hétérodyne fonctionne sur le principe de l’hétérodie, qui implique de mélanger le signal d’intérêt avec un signal de référence de fréquence légèrement différente (souvent appelée oscillateur local). Le principe clé derrière l’hétérodyment est la génération d’une fréquence de battement égale à la différence entre les fréquences des deux signaux. Dans un interféromètre hétérodyne, cette fréquence de battement est utilisée pour extraire les informations de phase du modèle d’interférence. En détectant et en analysant la fréquence de battement, l’interféromètre peut mesurer de petits déphasages avec une grande précision. Cette approche est particulièrement avantageuse dans les applications nécessitant des mesures extrêmement précises de la distance, du déplacement, des vibrations ou des irrégularités de surface. Les interféromètres hétérodyne sont largement utilisés dans des champs tels que la métrologie, la variation du laser, les tests optiques et l’inspection des semi-conducteurs, tirant parti de la résolution et de la sensibilité supérieures obtenues par hétérodying par rapport aux méthodes de détection directes.